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Ordonnance du 21 mai 2008 portant modification de l'ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs, Suisse

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Détails Détails Année de version 2008 Dates Entrée en vigueur: 1 juillet 2008 Émis: 21 mai 2008 Type de texte Textes règlementaires Sujet Schémas de configuration de circuits intégrés, Information non divulguée (Secrets commerciaux) Sujet (secondaire) Mise en application des droits, Organe de réglementation de la PI

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 Verordnung vom 21. Mai 2008 über Änderung über Verordnung Topographien von Halbleitererzeugnissen

Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

Änderung vom 21. Mai 2008

Der Schweizerische Bundesrat verordnet:

I

Die Topographienverordnung vom 26. April 19931 wird wie folgt geändert:

Art. 16 Bereich Die Hilfeleistung der Zollverwaltung erstreckt sich auf das Verbringen von Halb­ leitererzeugnissen, bei denen der Verdacht besteht, dass ihre Verbreitung gegen die in der Schweiz geltende Gesetzgebung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen verstösst, ins oder aus dem Zollgebiet.

Art. 17 Abs. 1 1 Die Hersteller und Herstellerinnen oder die klageberechtigten Lizenznehmer und Lizenznehmerinnen (Antragsteller und Antragstellerinnen) müssen den Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion stellen.

Art. 18 Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen 1 Behält die Zollstelle Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt sie sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten des Antragstellers oder der Antragstellerin einer Drittperson in Verwahrung. 2 Sie teilt dem Antragsteller oder der Antragstellerin Name und Adresse der Anmel­ derin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers, eine genaue Beschreibung, die Menge sowie den Absender im In- oder Ausland der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse mit. 3 Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise 2bis des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 19922 fest, dass der Antragsteller oder die Antragstellerin keine vorsorgliche Massnahme erwirken kann, so gibt die Zollstelle die Halbleitererzeugnisse unverzüglich frei.

1 SR 231.21 2 SR 231.1

2008-0673 2543

Topographienverordnung AS 2008

Art. 18a Proben oder Muster 1 Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann die Zollverwaltung dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halb­ leitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen. 2 Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzoll­ direktion oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.

Art. 18b Wahrung von Fabrikations- und Geschäftsgeheimnissen 1 Die Zollverwaltung weist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin bezie­ hungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer der Halbleitererzeugnisse auf die Möglichkeit hin, einen begründeten Antrag auf Verweigerung der Entnahme von Proben oder Mustern zu stellen. Sie setzt ihr oder ihm für die Stellung des Antrags eine angemessene Frist. 2 Gestattet die Zollverwaltung dem Antragsteller oder der Antragstellerin die Besichtigung der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse, so nimmt sie bei der Festlegung des Zeitpunkts auf die Interessen des Antragstellers oder der Antragstel­ lerin und der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers angemessen Rücksicht.

Art. 18c Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse

1 Die Zollverwaltung bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 19923 auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert sie die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren bezie­ hungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungs­ weise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet die Zollverwal­ tung die Proben oder Muster. 2 Die Zollverwaltung kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotogra­ fien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.

SR 231.1

2544

3

II

Topographienverordnung AS 2008

Art. 19 Gebühren Die Gebühren für die Hilfeleistung der Zollverwaltung richten sich nach der Ver­ ordnung vom 4. April 20074 über die Gebühren der Zollverwaltung.

Diese Änderung tritt am 1. Juli 2008 in Kraft.

21. Mai 2008 Im Namen des Schweizerischen Bundesrates

Der Bundespräsident: Pascal Couchepin Die Bundeskanzlerin: Corina Casanova

SR 631.035

2545

4

Topographienverordnung AS 2008

2546

 Ordonnance du 21 mai 2008 portant modification de l'ordonnance sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs

I

Ordonnance sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (Ordonnance sur les topographies, OTo)

Modification du 21 mai 2008

Le Conseil fédéral suisse arrête:

L’ordonnance du 26 avril 1993 sur les topographies1 est modifiée comme suit:

Art. 16 Domaine d’application L’Administration des douanes est habilitée à intervenir en cas d’introduction sur le territoire douanier et de sortie dudit territoire de produits semi-conducteurs lorsqu’il y a lieu de soupçonner que la mise en circulation de ces produits contrevient à la législation suisse sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs.

Art. 17, al. 1 1 Le producteur ou le preneur de licence ayant qualité pour agir (requérant) doit présenter la demande d’intervention à la Direction générale des douanes.

Art. 18 Rétention de produits semi-conducteurs 1 Lorsque le bureau de douane retient des produits semi-conducteurs, il les garde en dépôt contre perception d’un émolument ou confie cette tâche à un tiers au frais du requérant. 2 Il transmet au requérant le nom et l’adresse du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, une description précise et la quantité des produits semi-conducteurs retenus ainsi que le nom de l’expéditeur en Suisse ou à l’étranger desdits produits. 3 S’il s’avère, avant l’échéance des délais prévus à l’art. 77, al. 2 et 2bis de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur2, que le requérant ne pourra pas obtenir des mesures provisionnelles, le bureau de douane restitue les marchandises sans délai.

1 RS 231.21 2 RS 231.1

2008-0673 2543

Ordonnance sur les topographies RO 2008

Art. 18a Echantillons 1 Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’Administration des douanes peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effec­ tuer cet examen. 2 Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semi­ conducteurs.

Art. 18b Protection des secrets de fabrication et d’affaires 1 L’Administration des douanes informe le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi-conducteurs de la possibilité de refuser le prélèvement d’échantil­ lons sur présentation d’une demande motivée. Elle lui impartit un délai raisonnable pour présenter cette demande. 2 Si l’Administration des douanes autorise le requérant à inspecter les produits semi­ conducteurs retenus, elle tient compte, pour fixer le moment de l’inspection, de manière appropriée des intérêts du requérant, d’une part, et de ceux du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, d’autre part.

Art. 18c Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des produits semi-conducteurs

1 L’Administration des douanes conserve les échantillons prélevés durant un an à compter de la communication adressée au déclarant, au possesseur ou au propriétaire conformément à l’art. 77, al. 1 de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur3. Après expiration de ce délai, elle invite le déclarant, le possesseur ou le propriétaire à reprendre possession des échantillons ou à supporter les frais pour la poursuite de leur conservation. Si le déclarant, le possesseur ou le propriétaire ne donne pas suite à cette invitation ou s’il ne fait pas connaître sa décision dans les 30 jours, l’Administration des douanes détruit les échantillons. 2 Au lieu de prélever des échantillons, l’Administration des douanes peut faire des photographies des produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir la conservation des moyens de preuve.

Art. 19 Emoluments Les émoluments perçus pour l’intervention de l’Administration des douanes sont fixés dans l’ordonnance du 4 avril 2007 sur les émoluments de l’Administration fédérale des douanes4.

3 RS 231.1 4 RS 631.035

2544

II

Ordonnance sur les topographies RO 2008

La présente modification entre en vigueur le 1er juillet 2008.

21 mai 2008 Au nom du Conseil fédéral suisse:

Le président de la Confédération, Pascal Couchepin La chancelière de la Confédération, Corina Casanova

2545

Ordonnance sur les topographies RO 2008

2546

 Ordinanza del 21 maggio 2008 che modifica l'Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori RU 2008 2543

I

Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

Modifica del 21 maggio 2008

Il Consiglio federale svizzero, ordina:

L’ordinanza sulle topografie del 26 aprile 19931 è modificata come segue:

Art. 16 Campo d’applicazione L’Amministrazione federale delle dogane è abilitata a intervenire in caso di introdu­ zione sul territorio doganale e all’asportazione da esso di prodotti a semiconduttori in merito ai quali esiste il sospetto che la messa in circolazione violi la legislazione vigente in Svizzera relativa alla protezione di topografie di prodotti a semicondut­ tori.

Art. 17 cpv. 1 1 I produttori o i titolari di una licenza legittimati ad agire (richiedenti) devono presentare la domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane.

Art. 18 Ritenzione di prodotti a semiconduttori 1 In caso di ritenzione di prodotti a semiconduttori, l’ufficio doganale li custodisce esso stesso contro pagamento di una tassa oppure li fa custodire da terzi a spese del richiedente. 2 L’ufficio doganale comunica al richiedente il nome e l’indirizzo del depositante, del detentore o del proprietario, una descrizione precisa, la quantità e il nome del mittente in Svizzera o all’estero dei prodotti a semiconduttori ritenuti. 3 Se già prima della scadenza del termine giusta l’articolo 77 capoverso 2, rispetti­ vamente 2bis della legge del 9 ottobre 19922 sul diritto d’autore è chiaro che il richiedente non può ottenere provvedimenti cautelari, l’ufficio doganale libera immediatamente i prodotti a semiconduttori.

1 RS 231.21 2 RS 231.1

2008-0673 2543

Ordinanza sulle topografie RU 2008

Art. 18a Campioni 1 Il richiedente può chiedere la consegna o l’invio di campioni a scopo di esame oppure può chiedere di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti. Invece di campioni l’Amministrazione delle dogane può trasmettere al richiedente fotografie dei prodotti a semiconduttori ritenuti, se queste ne consentono l’esame. 2 La richiesta può essere presentata insieme alla domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane o, durante la ritenzione dei prodotti a semiconduttori, diretta­ mente all’ufficio doganale che trattiene i prodotti a semiconduttori.

Art. 18b Tutela dei segreti di fabbricazione e di affari 1 L’Amministrazione delle dogane informa il depositante, il detentore o il proprieta­ rio dei prodotti a semiconduttori della possibilità di presentare una richiesta motivata per rifiutare il prelievo di campioni. Per l’inoltro della richiesta essa stabilisce un termine adeguato. 2 Qualora l’Amministrazione delle dogane consenta al richiedente di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti, per stabilire il momento dell’esame tiene conto in maniera adeguata degli interessi del richiedente e del depositante, del detentore o del proprietario.

Art. 18c Conservazione dei mezzi di prova in caso di distruzione dei prodotti a semiconduttori

1 L’Amministrazione delle dogane trattiene i campioni prelevati per un periodo di un anno dalla notifica del depositante, del detentore o del proprietario in virtù dell’ar­ ticolo 77 capoverso 1 della legge del 9 ottobre 19923 sul diritto d’autore. Allo scade­ re di tale termine l’Amministrazione delle dogane invita il depositante, il detentore o il proprietario a prendere in custodia i campioni, oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore. Qualora il depositante, il detentore o il proprietario non sia disposto a prendere in custodia i campioni oppure ad assumere i costi per la conser­ vazione ulteriore, o se non si esprime entro 30 giorni, l’Amministrazione delle dogane distrugge i campioni. 2 Invece di prelevare campioni l’Amministrazione delle dogane può fotografare i prodotti a semiconduttori distrutti, a condizione che ciò consenta di garantire la conservazione dei mezzi di prova.

Art. 19 Emolumenti Gli emolumenti per l’intervento dell’Amministrazione delle dogane sono retti dall’ordinanza del 4 aprile 20074 sugli emolumenti dell’Amministrazione federale delle dogane.

3 RS 231.1 4 RS 631.035

2544

II

Ordinanza sulle topografie RU 2008

La presente modifica entra in vigore il 1° luglio 2008.

21 maggio 2008 In nome del Consiglio federale svizzero:

Il presidente della Confederazione, Pascal Couchepin La cancelliera della Confederazione, Corina Casanova

2545

Ordinanza sulle topografie RU 2008

2546


Législation Modifie (1 texte(s)) Modifie (1 texte(s))
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N° WIPO Lex CH441