À propos de la propriété intellectuelle Formation en propriété intellectuelle Respect de la propriété intellectuelle Sensibilisation à la propriété intellectuelle La propriété intellectuelle pour… Propriété intellectuelle et… Propriété intellectuelle et… Information relative aux brevets et à la technologie Information en matière de marques Information en matière de dessins et modèles industriels Information en matière d’indications géographiques Information en matière de protection des obtentions végétales (UPOV) Lois, traités et jugements dans le domaine de la propriété intellectuelle Ressources relatives à la propriété intellectuelle Rapports sur la propriété intellectuelle Protection des brevets Protection des marques Protection des dessins et modèles industriels Protection des indications géographiques Protection des obtentions végétales (UPOV) Règlement extrajudiciaire des litiges Solutions opérationnelles à l’intention des offices de propriété intellectuelle Paiement de services de propriété intellectuelle Décisions et négociations Coopération en matière de développement Appui à l’innovation Partenariats public-privé Outils et services en matière d’intelligence artificielle L’Organisation Travailler avec nous Responsabilité Brevets Marques Dessins et modèles industriels Indications géographiques Droit d’auteur Secrets d’affaires Académie de l’OMPI Ateliers et séminaires Application des droits de propriété intellectuelle WIPO ALERT Sensibilisation Journée mondiale de la propriété intellectuelle Magazine de l’OMPI Études de cas et exemples de réussite Actualités dans le domaine de la propriété intellectuelle Prix de l’OMPI Entreprises Universités Peuples autochtones Instances judiciaires Ressources génétiques, savoirs traditionnels et expressions culturelles traditionnelles Économie Financement Actifs incorporels Égalité des genres Santé mondiale Changement climatique Politique en matière de concurrence Objectifs de développement durable Technologies de pointe Applications mobiles Sport Tourisme PATENTSCOPE Analyse de brevets Classification internationale des brevets Programme ARDI – Recherche pour l’innovation Programme ASPI – Information spécialisée en matière de brevets Base de données mondiale sur les marques Madrid Monitor Base de données Article 6ter Express Classification de Nice Classification de Vienne Base de données mondiale sur les dessins et modèles Bulletin des dessins et modèles internationaux Base de données Hague Express Classification de Locarno Base de données Lisbon Express Base de données mondiale sur les marques relative aux indications géographiques Base de données PLUTO sur les variétés végétales Base de données GENIE Traités administrés par l’OMPI WIPO Lex – lois, traités et jugements en matière de propriété intellectuelle Normes de l’OMPI Statistiques de propriété intellectuelle WIPO Pearl (Terminologie) Publications de l’OMPI Profils nationaux Centre de connaissances de l’OMPI Série de rapports de l’OMPI consacrés aux tendances technologiques Indice mondial de l’innovation Rapport sur la propriété intellectuelle dans le monde PCT – Le système international des brevets ePCT Budapest – Le système international de dépôt des micro-organismes Madrid – Le système international des marques eMadrid Article 6ter (armoiries, drapeaux, emblèmes nationaux) La Haye – Le système international des dessins et modèles industriels eHague Lisbonne – Le système d’enregistrement international des indications géographiques eLisbon UPOV PRISMA UPOV e-PVP Administration UPOV e-PVP DUS Exchange Médiation Arbitrage Procédure d’expertise Litiges relatifs aux noms de domaine Accès centralisé aux résultats de la recherche et de l’examen (WIPO CASE) Service d’accès numérique aux documents de priorité (DAS) WIPO Pay Compte courant auprès de l’OMPI Assemblées de l’OMPI Comités permanents Calendrier des réunions WIPO Webcast Documents officiels de l’OMPI Plan d’action de l’OMPI pour le développement Assistance technique Institutions de formation en matière de propriété intellectuelle Mesures d’appui concernant la COVID-19 Stratégies nationales de propriété intellectuelle Assistance en matière d’élaboration des politiques et de formulation de la législation Pôle de coopération Centres d’appui à la technologie et à l’innovation (CATI) Transfert de technologie Programme d’aide aux inventeurs WIPO GREEN Initiative PAT-INFORMED de l’OMPI Consortium pour des livres accessibles L’OMPI pour les créateurs WIPO Translate Speech-to-Text Assistant de classification États membres Observateurs Directeur général Activités par unité administrative Bureaux extérieurs Avis de vacance d’emploi Achats Résultats et budget Rapports financiers Audit et supervision
Arabic English Spanish French Russian Chinese
Lois Traités Jugements Recherche par ressort juridique

Règlement relatif aux demandes d'enregistrement des topographies de produits semi-conducteurs microélectroniques (Règlement relatif à la protection des semi-conducteurs), Allemagne

Retour
Texte remplacé  Accéder à la dernière version dans WIPO Lex
Détails Détails Année de version 1987 Dates Entrée en vigueur: 4 novembre 1987 Adopté/e: 4 novembre 1987 Type de texte Textes règlementaires Sujet Schémas de configuration de circuits intégrés, Information non divulguée (Secrets commerciaux) Notes La notification présentée par l’Allemagne à l’OMC au titre de l’article 63.2 de l’Accord sur les ADPIC indique ce qui suit :
'Le règlement contient des dispositions complémentaires concernant les demandes d'enregistrement des topographies de produits semi-conducteurs utilisés en micro-électronique.'

Date d'entrée en vigueur: Voir la section 8 pour plus de détails.

Documents disponibles

Texte(s) principal(aux) Textes connexe(s)
Texte(s) princip(al)(aux) Texte(s) princip(al)(aux) Français Règlement relatif aux demandes d'enregistrement des topographies de produits semi-conducteurs microélectroniques (Règlement relatif à la protection des semi-conducteurs)         Anglais Regulation on Applications for the Registration of Topographies of Microelectronics Semiconductor Products (Regulations on Semiconductor Protection Applications)        
DE014: Integrated Circuits (Semiconductors), Order, 04/11/1987

Regulations on Applications for the Registration of Topographies
of Microelectronics Semiconductor Products

(Regulations on Semiconductor Protection Applications)

(of November 4, 1987)*

Scope

1.-
The following provisions shall apply, in addition to the requirements of the Semiconductor Protection Law,1 to applications for the registration of topographies.

Application for Protection

2.-
The application for protection shall consist of:
1. the request for registration (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)1 to 4);
2. the material identifying or illustrating the topography (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)2).

Request for Registration

3.-
(1) The request for registration shall contain the following to safeguard the application date:
1. the statement that registration of the protection of the topography is requested (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)1);
2. a clear and concise designation of the topography (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)1); the name of the topography or the product in which it is to be incorporated may be given as its designation, with an indication of the area to which the product relates;
3. the date of the day of first commercial exploitation, other than confidential, of the topography, where such day is earlier than the application (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)3);
4. details of the intended use, if there is a question of the topography being a State secret under Section 93 of the Criminal Code (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)2);
5. the name or designation of the applicant and other particulars (address) that serve to identify the applicant;
6. the signature of the applicant or applicants or of an agent.
(2) The request for registration shall in addition contain the following (Semiconductor Protection Law, Section 3(2)4):
1. in the case of natural persons, the nationality of the applicant or, where the applicant is not a national of a Member State of the European Economic Community, the applicant's usual residence;
2. in the case of firms, the location of the establishment;
3. where the applicant is the owner of an exclusive right to the commercial exploitation of the topography in the European Economic Community, the date of the day of first commercial exploitation, other than confidential, of the topography in the European Economic Community, where such day is earlier than the application (Semiconductor Protection Law, Section 2(4));
4. where a transfer of rights has occurred (Semiconductor Protection Law, Section 2(5)), the relevant details.
(3) Where the applicant desires that parts of the material be treated as trade or business secrets, the request for registration may contain the corresponding particulars (Semiconductor Protection Law, Section 4(3)).

Material for Identification or Illustration

4.-
(1) The following material shall be filed for the identification or illustration of the topography:
1. drawings or photographs of layouts for the manufacture of the semiconductor product, or
2. drawings or photographs of mask works or parts thereof for the manufacture of semiconductor products, or
3. drawings or photographs of individual layers of the semiconductor product.
(2) In addition to the material specified in paragraph (1), above, data carriers or printouts therefrom or the semiconductor product for the topography of which protection is sought, or an explicit description thereof may also be filed.

Trade or Business Secrets

5.-
Where material is marked as embodying trade or business secrets, the parts of the application so marked shall be filed separately from the other parts. The material may also be filed in an original copy and one additional copy, the latter with obliterated parts; the original copy shall be kept available for inspection in cancellation proceedings or in lawsuits concerning validity or infringement (Semiconductor Protection Law, Section 4(3), first sentence), and the second copy for general consultation.

German Language

6.-
Applications and supporting material shall be filed in German. The use of foreign-language technical terms that have established themselves within the area of application of these Regulations shall be permissible.

Berlin Clause

7.-
This Decree shall also apply in the Land of Berlin in accordance with Section 14 of the Third Transitional Law in conjunction with Section 27 of the Semiconductor Protection Law.

Entry into Force

8.-
This Decree shall enter into force on the day of its promulgation.

*German title: Verordnung über die Anmeldung der Topographien von mikroelektronischen Halbleitererzeugnissen (Halbeiterschutzanmeldeverordnung-HalblSchAnmV).

Entry into force: November 4, 1987.

Source: Bundesgesetzblatt, 1987, I, p. 2361.

1 See Industrial Property Laws and Treaties, GERMANY, FEDERAL REPUBLIC OF Text 1-004.

 Règlement relatif aux demandes d'enregistrement des topographies de produits semi-conducteurs microélectroniques (Règlement relatif à la protection des semi-conducteurs)

Règlement relatif aux demandes d’enregistrement des topographies de produits

semi-conducteurs microélectroniques (Règlement relatif à la protection des semi-conducteurs)

(du 4 novembre 1987)*

TABLE DES MATIÈRES** Article

Domaine d’application...................................................................................................................... 1er

Demande d’enregistrement ............................................................................................................... 2 Requête en enregistrement ................................................................................................................ 3 Pièces permettant d’identifier ou représentant la topographie........................................................... 4 Secrets industriels et commerciaux ................................................................................................... 5 Langue allemande ............................................................................................................................. 6 Clause concernant Berlin .................................................................................................................. 7 Entrée en vigueur .............................................................................................................................. 8

Domaine d’application

1. Les dispositions ci-après complètent celles de la Loi sur la protection des semi-conducteurs concernant les demandes d’enregistrement des topographies.

Demande d’enregistrement

2. La demande d’enregistrement comprend 1. la requête en enregistrement (article 3, alinéa 2)1 à 4 de la Loi sur la protection des semi-

conducteurs), 2. les pièces permettant d’identifier ou représentant la topographie (article 3, alinéa 2)2 de la Loi

sur la protection des semi-conducteurs).

Requête en enregistrement

3. – 1) Pour donner date certaine à l’enregistrement, la requête en enregistrement doit comprendre: 1. une indication selon laquelle la demande vise l’enregistrement de la protection de la topographie

(article 3, alinéa 2)1 de la Loi sur la protection des semi-conducteurs); 2. une description brève et précise de la topographie (article 3, alinéa 2)1 de la Loi sur la

protection des semi-conducteurs). Cette description peut consister dans l’indication du nom de

* Titre allemand: Verordnung über die Anmeldung der Topographien von mikroelektronischen Halbleitererzeugnissen (Halbleiterschutzanmeldeverordnung – HalblSchAnmV).

Entrée en vigueur: 4 novembre 1987. Source: Bundesgesetzblatt 1987, I, p. 2361. ** Ajoutée par l’OMPI.

la topographie ou de la désignation du produit auquel elle est incorporée ainsi que du domaine d’application du produit;

3. la date de la première exploitation commerciale non uniquement secrète de la topographie, si cette date est antérieure à celle de la demande d’enregistrement (article 3, alinéa 2)3 de la Loi sur la protection des semi-conducteurs);

4. des indications sur l’utilisation à laquelle la topographie est destinée, s’il est considéré que la topographie puisse être un secret d’Etat (article 93 du Code pénal) (article 3, alinéa 2)2 de la Loi sur la protection des semi-conducteurs);

5. le nom ou la désignation du déposant et d’autres indications (adresse) permettant de l’identifier; 6. la signature du ou des déposants ou d’un mandataire. 2) La requête en enregistrement doit également indiquer (article 3, alinéa 2)4 de la Loi sur la

protection des semi-conducteurs): 1. pour les personnes physiques, la nationalité du déposant ou, si celui-ci n’est pas ressortissant

d’un des Etats membres de la Communauté économique européenne, son lieu de résidence habituelle;

2. pour les sociétés, le lieu de l’établissement; 3. si le déposant est titulaire d’un droit exclusif portant sur l’exploitation commerciale de la

topographie dans la Communauté économique européenne, la date du jour de la première exploitation commerciale non uniquement secrète de la topographie dans la Communauté, si cette date est antérieure à celle de la demande (article 2, alinéa 4) de la Loi sur la protection des semi-conducteurs);

4. s’il y a eu cession du droit (article 2, alinéa 5) de la Loi sur la protection des semi-conducteurs), toutes précisions utiles.

3) Si le déposant veut signaler que certaines des pièces déposées contiennent des secrets industriels ou commerciaux, il peut donner les indications nécessaires dans la requête en enregistrement (article 4, alinéa 3) de la Loi sur la protection des semi-conducteurs).

Pièces permettant d’identifier ou représentant la topographie

4. – 1) Les pièces suivantes doivent être présentées pour permettre d’identifier ou pour représenter la

topographie: 1. dessins ou photographies des maquettes de fabrication du produit semi-conducteur, ou 2. dessins ou photographies des masques ou parties des masques servant à la fabrication du produit

semi-conducteur, ou 3. dessins ou photographies des différentes couches du produit semi-conducteur. 2) Outre les pièces visées à l’alinéa 1) ci-dessus, peuvent également être déposés des supports de

données ou les imprimés correspondants, ou le produit semi-conducteur pour la topographie duquel une protection est demandée, ou une description détaillée.

Secrets industriels et commerciaux

5. Lorsque des pièces déposées sont signalées par le déposant comme contenant des secrets industriels ou commerciaux, ces pièces doivent être présentées à part dans la demande d’enregistrement. Le dossier peut aussi être présenté en deux exemplaires: un exemplaire original, et un autre exemplaire dont certaines parties auront été rendues indéchiffrables. L’exemplaire original du dossier pourra être consulté dans les procédures portant sur la radiation, la validité ou la violation de la protection (article 4, alinéa 3), première phrase, de la Loi sur la protection des semi-conducteurs); le second exemplaire pourra être consulté de manière générale.

Langue allemande

6. Les requêtes et demandes doivent être déposées en allemand. L’utilisation de termes techniques étrangers dont l’usage s’est imposé dans le domaine d’application du présent règlement est autorisée.

Clause concernant Berlin

7. Conformément à l’article 14 de la Troisième loi de transition et à l’article 27 de la Loi sur la protection des semi-conducteurs, le présent règlement est également applicable au Land de Berlin.

Entrée en vigueur

8. Le présent règlement entre en vigueur le jour de sa promulgation.


Législation Est remplacé(e) par (1 texte(s)) Est remplacé(e) par (1 texte(s))
Aucune donnée disponible

N° WIPO Lex DE014